Marque enregistrée - Marque en vigueur

PLATYPUS
POLLEN METROLOGY, SAS

Numéro de dépôt :
4296984
Date de dépôt :
05/09/2016
Lieu de dépôt :
92 INPI - Dépôt électronique
Date d'expiration :
05/09/2026
PLATYPUS de POLLEN METROLOGY

Présentation de la marque PLATYPUS

Déposée par voie électronique le 5 septembre 2016 par la Société par Action Simplifiée (SAS) POLLEN METROLOGY auprès de l’Institut National de la Propriété Industrielle (I.N.P.I PARIS), la marque française « PLATYPUS » a été publiée au Bulletin Officiel de la Propriété Industrielle (BOPI) sous le numéro 2016-39 du 30 septembre 2016.

Le déposant est la Société par Action Simplifiée (SAS) POLLEN METROLOGY domicilié(e) 9 RUE DU ROCHER DE LORZIER - 38430 - MOIRANS - France et immatriculée sous le numéro RCS 804 862 043 .

Lors de son dépôt, il a été fait appel à un mandataire, M. JOHANN FOUCHER domicilié(e) 9 RUE DU ROCHER DE LORZIER - 38430 - MOIRANS - France.

La marque PLATYPUS a été enregistrée au Registre National des Marques (RNM) sous le numéro 4296984.

C'est une marque semi-figurative qui a été déposée dans les classes de produits et/ou de services suivants :

09

Enregistrée pour une durée de 10 ans, la marque PLATYPUS arrivera à expiration en date du 5 septembre 2026.


POLLEN METROLOGY, SAS - 9 RUE DU ROCHER DE LORZIER - 38430 - MOIRANS - France - SIREN 804862043


M. JOHANN FOUCHER - 9 RUE DU ROCHER DE LORZIER - 38430 - MOIRANS - France


Publication - Publication le 30 sept. 2016 au BOPI 2016-39

Enregistrement sans modification - Publication le 27 janv. 2017 au BOPI 2017-04

Logiciels (programmes enregistrés) ; Logiciel de caractérisation et de métrologie destiné à l'analyse de données en provenance de microscope électronique à balayage, microscope électronique à transmission, microscope à force atomique, spectromètre infrarouge ou tout autre technique dédiée à la caractérisation, l'optimisation, la recherche et la production de matériaux à l'échelle micronique ou nanométrique. Logiciel d'agrégation de données hétérogènes en provenance d'équipements de caractérisation pour la recherche et la production de nouveau matériaux ou procédés pour les micro et nano technologies. Logiciel de modélisation de tout type de procédés industriels contenant des micro ou nano matériaux. Logiciel de modélisation d'équipements virtuels de caractérisation et de métrologie.