Marque renouvelée - Marque en non vigueur

PHI
PHYSICAL ELECTRONICS INC.

Numéro de dépôt :
1362057
Date de dépôt :
03/07/1986
Lieu de dépôt :
INPI PARIS
Date d'expiration :
03/07/2006
PHI de PHYSICAL ELECTRONICS INC

Présentation de la marque PHI

Déposée le 3 juillet 1986 par PHYSICAL ELECTRONICS INC auprès de l’Institut National de la Propriété Industrielle (INPI PARIS), la marque française « PHI » a été publiée au Bulletin Officiel de la Propriété Industrielle (BOPI) sous le numéro

Le déposant est PHYSICAL ELECTRONICS INC., domicilié(e) 6509 Flying Cloud Drive Eden Prairie, Minnesota 55344 ETATS UNIS D'AMERIQUE (dossier no 2068456) - États-Unis.

Lors de son dernier renouvellement, il a été fait appel à un mandataire, CABINET BEAU DE LOMENIE domicilié(e) (dossier no 2068456) - France.

La marque PHI a été enregistrée au Registre National des Marques (RNM) sous le numéro 1362057.

C'est une marque semi-figurative qui a été déposée dans les classes de produits et/ou de services suivants :

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Enregistrée pour une durée de 20 ans, la marque PHI est expirée depuis le 3 juillet 2006.


PHYSICAL ELECTRONICS INC. - 6509 Flying Cloud Drive Eden Prairie, Minnesota 55344 ETATS UNIS D'AMERIQUE (dossier no 2068456) - États-Unis


CABINET BEAU DE LOMENIE - (dossier no 2068456) - France


Renouvellement sans limitation le 10 mai 1996 n°2068456 - Publication au BOPI 1996-05-10

Enregistrement ancienne loi - Publication au BOPI 1986-51

Inscription le 3 juillet 1995 - Transmission de propriété n°187077 - Publication au BOPI 1995-07-03

Appareils et instruments scientifiques, électriques, électroniques, optiques, de pesage, de mesurage, de signalisation, de contrôle (inspection).Analyseurs destinés à la mesure de l'énergie d'électrons émis pardes échantillons,y compris les éléments d'optique électronique utilisés dans les systèmes sous vide de spectromètres de laboratoires de recherche, ainsi que leurs parties et accessoires;appareils de fixation et de positionnement d'échantillons;canons à électrons;canons à ions;panneaux de commande de systèmes sous vide;dispositifs de balayage électronique;systèmes de gravure par pulvérisation cathodique;dispositifs de chauffage d'échantillons et leurs commandes;dispositifs de manipulation d'échantillons;microscopes optiques;commandes multiplex;appareils de fracture d'échantillons;analyseurs d'énergie de photoémission et leurs commandes;accessoires de déplacement linéaire destinés au repositionnement de l'équipement d'analyse à l'intérieur d'une chambre à vide;générateurs de rayons X;éléments d'opique relatifs à la détection des électrons peu énergétiques et leurs commandes;microsondes Auger à balayage;spectromètres de masse à ions secondaires;et diagrammes, graphiques et manuel pour l'utilisation en spectroscopie des électrons Auger.