Marque renouvelée - Marque en non vigueur

TENCOR
KLA-TENCOR CORPORATION, société organisée selon les lois de l'Etat de Delaware

Numéro de dépôt :
92428063
Date de dépôt :
24/07/1992
Lieu de dépôt :
I.N.P.I. PARIS
Date d'expiration :
24/07/2012

Présentation de la marque TENCOR

Déposée le 24 juillet 1992 par la société KLA-TENCOR CORPORATION auprès de l’Institut National de la Propriété Industrielle (I.N.P.I. PARIS), la marque française « TENCOR » a été publiée au Bulletin Officiel de la Propriété Industrielle (BOPI) sous le numéro 1992-30 du 4 septembre 1992.

Le déposant est la société KLA-TENCOR CORPORATION domicilié(e) 160 Rio Robies SAN JOSE, Etat de Californie 95134,Etats-Unis d'Amérique (dossier no 2224681) - États-Unis.

Lors de son dernier renouvellement, il a été fait appel à un mandataire, BREESE MAJEROWICZ domicilié(e) 3, avenue de l'Opéra,75001 PARIS (dossier no 2224681) - 75001 - France.

La marque TENCOR a été enregistrée au Registre National des Marques (RNM) sous le numéro 92428063.

C'est une marque semi-figurative qui a été déposée dans les classes de produits et/ou de services suivants :

09

Enregistrée pour une durée de 20 ans, la marque TENCOR est expirée depuis le 24 juillet 2012.

KLA-TENCOR CORPORATION a également déposé les autres marques suivantes : STATTRAX , OMNIMAP , PROMETRIX


KLA-TENCOR CORPORATION, société organisée selon les lois de l'Etat de Delaware - 160 Rio Robies SAN JOSE, Etat de Californie 95134,Etats-Unis d'Amérique (dossier no 2224681) - États-Unis


BREESE MAJEROWICZ - 3, avenue de l'Opéra,75001 PARIS (dossier no 2224681) - 75001 - France


Enregistrement sans modification - Publication au BOPI 1992-47

Inscription le 18 septembre 2002 - Transmission totale de propriété n°354292 - Publication au BOPI 2002-09-18

Renouvellement sans limitation le 15 juillet 2002 n°2224681 - Publication au BOPI 2002-07-15

Publication - Publication le 4 sept. 1992 au BOPI 1992-30

Appareils et instruments scientifiques, électriques, optiques et électro-optiques, notamment détecteurs électrooptiques de défauts de surfaces, et instruments pour caractériser les propriétés des bandes minces et des pastilles semi-conductrices