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Marques déposées par la société étrangère KABUSHIKI KAISHA MITUTOYO (MITUTOYO CORPORATION
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ABSOLUTE
Marque renouvelée - Marque en vigueur

ABSOLUTE
KABUSHIKI KAISHA MITUTOYO (MITUTOYO CORPORATION), Société de droit japonais

Numéro de dépôt :
3320777
Date de dépôt :
27/10/2004
Lieu de dépôt :
I.N.P.I. PARIS
Date d'expiration :
27/10/2024
ABSOLUTE de KABUSHIKI KAISHA MITUTOYO (MITUTOYO CORPORATION

Présentation de la marque ABSOLUTE

Déposée le 27 octobre 2004 par la société étrangère KABUSHIKI KAISHA MITUTOYO (MITUTOYO CORPORATION auprès de l’Institut National de la Propriété Industrielle (I.N.P.I. PARIS), la marque française « ABSOLUTE » a été publiée au Bulletin Officiel de la Propriété Industrielle (BOPI) sous le numéro 2004-49 du 3 décembre 2004.

Le déposant est la société étrangère KABUSHIKI KAISHA MITUTOYO (MITUTOYO CORPORATION domicilié(e) 20-1, Sakado 1-Chome, Takatsu-ku, 213-8533 KAWASAKI, Kanagama - Japon.

Lors de son dernier renouvellement, il a été fait appel à un mandataire, CABINET PASCALE LAMBERT ET ASSOCIES domicilié(e) 18 AVENUE DE L'OPERA - 75001 - PARIS - France.

La marque ABSOLUTE a été enregistrée au Registre National des Marques (RNM) sous le numéro 3320777.

C'est une marque semi-figurative qui a été déposée dans les classes de produits et/ou de services suivants :

09

Enregistrée pour une durée de 20 ans, la marque ABSOLUTE arrivera à expiration en date du 27 octobre 2024.


KABUSHIKI KAISHA MITUTOYO (MITUTOYO CORPORATION), Société de droit japonais - 20-1, Sakado 1-Chome, Takatsu-ku, 213-8533 KAWASAKI, Kanagama - Japon


CABINET PASCALE LAMBERT ET ASSOCIES - 18 AVENUE DE L'OPERA - 75001 - PARIS - France


Enregistrement sans modification - Publication au BOPI 2005-13

Publication - Publication le 3 déc. 2004 au BOPI 2004-49

Renouvellement sans limitation le 27 août 2014 n°2565972 - Publication le 24 oct. 2014 au BOPI 2014-08-27

Instruments de mesure et appareils de mesure ; instruments de mesure et appareils de mesure électroniques ; instruments de mesure et appareils de mesure magnétiques ; calibres ; micromètres ; calibres ou jauges d'alésage ; calibres ou jauges de profondeur ; jauges de hauteur ; comparateurs ; comparateur à cadran ; calibres linéaires ; calibres ou jauges de pas ; calibres ou jauges d'épaisseur ; rapporteurs ; jauges de rayon ; dispositifs de positionnement ; échelles de position linéaire ; appareils d'encodage ; codeurs et appareils d'encodage linéaires ; codeurs et appareils d'encodage rotatifs ; codeurs et appareils d'encodage magnétiques ; dispositif électronique de traitement de données pour le traitement et l'affichage des informations de mesure reçues de la part des instruments qui précèdent.