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Marques déposées par la Société Anonyme (SA) INSTRUMENTS
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DIGITWIN
Marque enregistrée - Marque en non vigueur

DIGITWIN
INSTRUMENTS S.A. (Société Anonyme)

Numéro de dépôt :
97701696
Date de dépôt :
28/10/1997
Lieu de dépôt :
I.N.P.I. PARIS
Date d'expiration :
28/10/2007

Présentation de la marque DIGITWIN

Déposée le 28 octobre 1997 par la Société Anonyme (SA) INSTRUMENTS auprès de l’Institut National de la Propriété Industrielle (I.N.P.I. PARIS), la marque française « DIGITWIN » a été publiée au Bulletin Officiel de la Propriété Industrielle (BOPI) sous le numéro 1997-49 du 5 décembre 1997.

Le déposant est la Société Anonyme (SA) INSTRUMENTS domicilié(e) 25, avenue de l'Opéra, 75001 PARIS - France et immatriculée sous le numéro RCS 837 150 366 .

Lors de son dépôt, il a été fait appel à un mandataire, BUREAU D.A. CASALONGA-JOSSE - France.

La marque DIGITWIN a été enregistrée au Registre National des Marques (RNM) sous le numéro 97701696.

C'est une marque semi-figurative qui a été déposée dans les classes de produits et/ou de services suivants :

09

Enregistrée pour une durée de 10 ans, la marque DIGITWIN est expirée depuis le 28 octobre 2007.

INSTRUMENTS a également déposé les autres marques suivantes : POLYDEM , CELISA , DICHROGRAPHE , BIOLYSEUR , ISA , UVISEL , HUET PARIS , ISAMAT , STIMAX , RIBERMAG


INSTRUMENTS S.A. (Société Anonyme) - 25, avenue de l'Opéra, 75001 PARIS - France - SIREN 837150366


BUREAU D.A. CASALONGA-JOSSE - France


Enregistrement sans modification - Publication au BOPI 1998-15

Publication - Publication le 5 déc. 1997 au BOPI 1997-49

Appareils et instruments scientifiques (autres qu'à usage médical), nautiques, géodésiques, photographiques, cinématographiques, optiques, de pesage, de mesurage, de signalisation, de contrôle (inspection), de secours (sauvetage) et d'enseignement; équipement pour le traitement de l'information et les ordinateurs, programmes d'ordinateurs enregistrés; instrument de mesures optiques, destiné à la détection de fin d'attaque des procédés de gravure ou de dépôt de couches minces, couplant simultanément l'analyse spectrale de la lumière émise par un plasma et les mesures interférométriques