Marque renouvelée - Marque en vigueur

ADVANTEST
ADVANTEST CORPORATION, Société de droit japonais

Numéro de dépôt :
1322226
Date de dépôt :
05/09/1985
Lieu de dépôt :
INPI PARIS
Date d'expiration :
05/09/2025

Présentation de la marque ADVANTEST

Déposée le 5 septembre 1985 par la société étrangère ADVANTEST CORPORATION auprès de l’Institut National de la Propriété Industrielle (INPI PARIS), la marque française « ADVANTEST » a été publiée au Bulletin Officiel de la Propriété Industrielle (BOPI) sous le numéro

Le déposant est la société étrangère ADVANTEST CORPORATION domicilié(e) 32-1, Asahi-cho, 1-chome, Nerima-ku, TOKYO 179-0071 - Japon.

Lors de son dernier renouvellement, il a été fait appel à un mandataire, SANTARELLI domicilié(e) 49, avenue des Champs-Elysées - 75008 - PARIS - France.

La marque ADVANTEST a été enregistrée au Registre National des Marques (RNM) sous le numéro 1322226.

C'est une marque semi-figurative qui a été déposée dans les classes de produits et/ou de services suivants :

09

Enregistrée pour une durée de 40 ans, la marque ADVANTEST arrivera à expiration en date du 5 septembre 2025.

ADVANTEST CORPORATION a également déposé les autres marques suivantes : ADVAN-STAR , ADVANTEST , ADVANNET , ADVAN-ELECTRON , WMT


ADVANTEST CORPORATION, Société de droit japonais - 32-1, Asahi-cho, 1-chome, Nerima-ku, TOKYO 179-0071 - Japon


SANTARELLI - 49, avenue des Champs-Elysées - 75008 - PARIS - France


Renouvellement sans limitation le 25 avril 2005 n°2286965 - Publication au BOPI 2005-04-25

Renouvellement sans limitation n°2047813 - Publication au BOPI 1995-22

Enregistrement ancienne loi - Publication au BOPI 1986-07

Inscription - Changement de dénomination n°22894 - Publication au BOPI

Renouvellement sans limitation le 28 août 2015 n°2596035 - Publication le 31 déc. 2015 au BOPI 2015-08-28

Inscription le 19 juin 2019 - Changement d'adresse n°759164 - Publication le 19 juil. 2019 au BOPI 2019-06-19

Système de test de mémoire (RAM, HMOS-RAM, ECL-RAM, ROM, test d'appareil à mémoire à semi-conducteur), système de test VLSI (appareil de test VLSI), système de test LSI (microprocesseur, montre numérique, RAM, ROM, test d'appareil LSI), système de gestion de données de test (programme, données, données d'analyse, données de test LSI), système de test d'éléments, système de test d'appareil LSI, numérique et analogique, système de test de circuits, système de test de dispositifs semi-conducteurs à image, analyseur logique, unité de test, générateur de signaux, analyseur de spectre, matériel de mesure de force de champs, analyseur de spectre numérique (analyseur FFT), compteur électronique;voltmètre, ampèremètre, ohmmètre, numériques; générateur de tension continue et générateur de courant continu, thermomètre ou pyromètre numériques et matériel d'acquisition de données, scanner, multiplexeur.