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Marques déposées par la société KABUSHIKI KAISHA HITACHI SEISAKUSHO (HITACHI
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MICROSCALE
Marque renouvelée - Marque en vigueur

MICROSCALE
KABUSHIKI KAISHA HITACHI SEISAKUSHO (HITACHI, LTD.), Société organisée sous les lois du Japon

Numéro de dépôt :
95562919
Date de dépôt :
15/03/1995
Lieu de dépôt :
I.N.P.I. PARIS
Date d'expiration :
15/03/2025

Présentation de la marque MICROSCALE

Déposée le 15 mars 1995 par la société KABUSHIKI KAISHA HITACHI SEISAKUSHO (HITACHI auprès de l’Institut National de la Propriété Industrielle (I.N.P.I. PARIS), la marque française « MICROSCALE » a été publiée au Bulletin Officiel de la Propriété Industrielle (BOPI) sous le numéro 1995-16 du 21 avril 1995.

Le déposant est la société KABUSHIKI KAISHA HITACHI SEISAKUSHO (HITACHI domicilié(e) 6-6, Marunouchi 1-chome, Chiyoda-ku, TOKYO - Japon.

Lors de son dernier renouvellement, il a été fait appel à un mandataire, SELAS CASALONGA domicilié(e) 5-7 Avenue Percier - 75008 - PARIS - France.

La marque MICROSCALE a été enregistrée au Registre National des Marques (RNM) sous le numéro 95562919.

C'est une marque semi-figurative qui a été déposée dans les classes de produits et/ou de services suivants :

09

Enregistrée pour une durée de 30 ans, la marque MICROSCALE arrivera à expiration en date du 15 mars 2025.

KABUSHIKI KAISHA HITACHI SEISAKUSHO (HITACHI a également déposé les autres marques suivantes : OSCNQS , DEQSOL LIB HAP , (Marque figurative) , HITACHI , HITACHI , F , SAXIRIS , HI-UX WE2 , TRADE WINDS ON EXTRANET , HITAC


KABUSHIKI KAISHA HITACHI SEISAKUSHO (HITACHI, LTD.), Société organisée sous les lois du Japon - 6-6, Marunouchi 1-chome, Chiyoda-ku, TOKYO - Japon


SELAS CASALONGA - 5-7 Avenue Percier - 75008 - PARIS - France


Renouvellement sans limitation le 23 décembre 2004 n°2277987 - Publication au BOPI 2004-12-23

Enregistrement avec modification - Publication au BOPI 1995-42

Publication - Publication le 21 avr. 1995 au BOPI 1995-16

Renouvellement sans limitation le 16 décembre 2014 n°2573939 - Publication le 27 févr. 2015 au BOPI 2014-12-16

Dispositif normalisé pour la mesure de précision avec un microscope électronique à balayage